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              Test items檢測項目

              冷場發射掃描電子顯微鏡
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              冷場發射掃描電子顯微鏡

              儀器照片

              儀器名稱

              場發射環境掃描電子顯微鏡

              儀器型號

              美國FEI Quanta 400 FEG

              儀器簡介

                      Quanta FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢,可對各種各樣的樣品(包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等)進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。
                      Quanta FEG可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。

              技術參數

                  ?MonoCL3+陰極熒光譜儀,波長范圍160-930nm

                  ?電子束感生電流(EBIC)

                  ? STEM探測器

                  ? Apollo 40 SDD能譜儀

                  ? 液氮冷臺,溫度范圍為-185℃- +200℃

                  ? 液氦冷臺,溫度范圍6K-300K

              儀器功能

                  ? 可在高真空、低真空130Pa)、環境真空(4000Pa)下觀察導電和不導電樣品,對材料的表面和橫截面的微觀形貌、成分進     行分析,廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、納米材料等領域;

                  ? 配備的Apollo40 SDD能譜無需液氮制冷,可進行快速的點、線、面分布分析,獲得能譜的mapping圖譜;

                  ? 其樣品室直徑達284 mm,對于直徑達四英寸硅片可以直接進行測試,無需對樣品進行分割處理;

              檢測案例一

              (圖片)


              檢測案例二

              (能譜)

              樣品要求

                      建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片,如果沒有,檢測要求需詳細填寫??商峁?/span>12張圖片:即篩選出三個比較好的區域,每個區域提供3-4張不同放大倍數滿足測試要求的圖片,對于找不到符合測試要求的區域的樣品,我們將會多拍一些區域以證明樣品的真實情況!寄送樣品質量大于20mg。

               

               

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